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深圳市華科智源科技有限公司
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  • 半導(dǎo)體測(cè)試儀器

    半導(dǎo)體測(cè)試儀器擴(kuò)展性強(qiáng),通過選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插...

    型號(hào): HUSTEC-DC... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 14:47:13 對(duì)比
    分立器件測(cè)試儀晶體管圖示儀晶體管測(cè)試儀分立器件測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀
  • 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備

    華科智源半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 14:35:52 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀IGBT測(cè)試儀半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備
  • IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 14:23:48 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 特大功率IGBT測(cè)試系統(tǒng)

    特大功率IGBT測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 14:07:22 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備大功率IGBT測(cè)試儀
  • 分立器件測(cè)試設(shè)備

    分立器件測(cè)試設(shè)備擴(kuò)展性強(qiáng),通過選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試...

    型號(hào): HUSTEC-DC... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 13:52:06 對(duì)比
    分立器件測(cè)試儀晶體管圖示儀晶體管測(cè)試儀分立器件測(cè)試系統(tǒng)
  • 10ms浪涌電流測(cè)試儀

    華科智源-10ms浪涌電流測(cè)試儀,可測(cè)試二極管,MOS,IGBT,以及SIC器件浪涌電流能力,可輸出底寬10ms,8.3ms,1ms,10us等正弦半波或方波,...

    型號(hào): HUSTEC-IF... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 13:47:47 對(duì)比
    浪涌電流測(cè)試儀10ms浪涌電流測(cè)試儀浪涌電流測(cè)試設(shè)備
  • SIC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    SIC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 11:05:16 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀SIC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
  • SIC模塊測(cè)試儀

    SIC模塊測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于器...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/19 10:49:15 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀SIC模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備
  • 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀

    半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀擴(kuò)展性強(qiáng),通過選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的...

    型號(hào): HUSTEC-DC... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/18 16:03:55 對(duì)比
    分立器件測(cè)試儀晶體管圖示儀晶體管測(cè)試儀分立器件測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀
  • IGBT綜合特性測(cè)試儀

    IGBT綜合特性測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/18 14:50:08 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備大功率IGBT測(cè)試儀IGBT綜合特性測(cè)試儀
  • 分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀擴(kuò)展性強(qiáng),通過選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)...

    型號(hào): HUSTEC-DC... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/18 14:08:41 對(duì)比
    分立器件測(cè)試儀晶體管圖示儀晶體管測(cè)試儀分立器件測(cè)試系統(tǒng)分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
  • 二極管浪涌測(cè)試儀

    華科智源二極管浪涌測(cè)試儀,可測(cè)試二極管,MOS,IGBT,以及SIC器件浪涌電流能力,可輸出底寬10ms,8.3ms,1ms,10us等正弦半波或方波,浪涌電流...

    型號(hào): HUSTEC-IF... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/18 9:53:08 對(duì)比
    浪涌電流測(cè)試儀10us浪涌測(cè)試儀浪涌電流測(cè)試設(shè)備二極管浪涌測(cè)試儀
  • 浪涌電流測(cè)試設(shè)備

    華科智源-浪涌電流測(cè)試設(shè)備,可測(cè)試二極管,MOS,IGBT,以及SIC器件浪涌電流能力,可輸出底寬10ms,8.3ms,1ms,10us等正弦半波或方波,浪涌電...

    型號(hào): HUSTEC-IF... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/13 11:21:00 對(duì)比
    浪涌電流測(cè)試儀10us浪涌測(cè)試儀浪涌電流測(cè)試設(shè)備
  • 激光開封機(jī)

    芯片激光開封機(jī)的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑封外殼,從而光學(xué)觀測(cè)或者電氣性能測(cè)試提供了可能性,以便于實(shí)現(xiàn)X射線等無損檢測(cè)無法實(shí)現(xiàn)的功能。激...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/13 11:03:19 對(duì)比
    激光開 封機(jī)激光開 封設(shè)備
  • 便攜式IGBT測(cè)試設(shè)備

    便攜式IGBT測(cè)試設(shè)備,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/13 10:27:57 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備大功率IGBT測(cè)試儀
  • 便攜式IGBT測(cè)試儀

    便攜式IGBT測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/13 10:18:22 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備大功率IGBT測(cè)試儀
  • 二極管靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    二極管靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/12 17:36:25 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備二極管靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
  • 大功率IGBT測(cè)試儀

    大功率IGBT測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/12 16:09:31 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備大功率IGBT測(cè)試儀
  • 功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

    功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/12 15:12:38 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀
  • 光耦參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    光耦參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于器...

    型號(hào): HUSTEC-16... 所在地:深圳市參考價(jià): ¥198更新時(shí)間:2024/9/12 14:25:04 對(duì)比
    靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀大功率模塊測(cè)試儀IGBT檢測(cè)設(shè)備光耦參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

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