您現(xiàn)在的位置: 武漢東隆科技有限公司>>光通信測量>> OCI-T光學器件分析系統(tǒng)
OCI-T光學器件分析系統(tǒng)
參考價: | 面議 |
- OCI-T 產(chǎn)品型號
- 品牌
- 代理商 廠商性質
- 武漢市 所在地
訪問次數(shù):400更新時間:2022-09-16 15:04:10
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 售后保修期 | 12個月 |
---|---|---|---|
銷售區(qū)域 | 全國 |
產(chǎn)品介紹
OCI-T光學故障測量儀具有功能齊全、性價比高等特點,可實現(xiàn)從器件到光學鏈路全范圍的精確插損、回損、長度測量。長度測量范圍為10m,精度可達毫米量級,空間分辨率為20μm。非常適用于定量分析,品質監(jiān)測及故障診斷。
產(chǎn)品特點:
空間分辨率:20μm
測量長度:20m
中心波長:1550nm
插損、回損分析
主要應用:
無源器件插損、回損測量
硅光芯片插損、回損測量
平面波導器件測試
光學鏈路分析、診斷
參數(shù):
備注:
1.OCI-T測量長度為20m ,后續(xù)支持升級至100m 。
2.空間分辨率為20μm,后續(xù)支持升級至10μm。
3.插損動態(tài)范圍是指標準單模光纖其散射水平被本底噪聲淹沒之前的單向損耗。
相關產(chǎn)品