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詳細(xì)介紹
平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。
平行平晶技術(shù)要求
| 組別 | 兩工作面的平行度 | 工作面的平面度 | 2/3d范圍內(nèi)的平面度 |
| I、II | 0.6 | 0.1 | 0.05 |
| III | 0.8 | 0.1 | 0.05 |
| IV | 1.0 | 0.1 | 0.05 |
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