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二次元測(cè)量?jī)x與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的差異比較!
閱讀：2284 發(fā)布時(shí)間：2022-9-21二次元測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是工業(yè)制造領(lǐng)域非常常用的精密測(cè)量設(shè)備，但這兩種設(shè)備的測(cè)量方法之間存在著不同的差異。以下是二次元測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的區(qū)別比較!
高精度測(cè)量設(shè)備是工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量控制的重要設(shè)備。二次元測(cè)量?jī)x與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的區(qū)別主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
不同的測(cè)量方法:二次元測(cè)量?jī)x是非接觸式光學(xué)測(cè)量設(shè)備，通過(guò)光學(xué)鏡頭拍攝的圖像獲取尺寸數(shù)據(jù)，不用于工件接觸和測(cè)量工具，可以實(shí)現(xiàn)批量高效測(cè)量。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)需要通過(guò)探頭接觸工件來(lái)獲得接觸點(diǎn)的三維坐標(biāo)值，必須通過(guò)接觸獲得每個(gè)要獲得的點(diǎn)的坐標(biāo)，這是一種接觸式測(cè)量方法。
測(cè)量類型不同:由于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和二次元影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量方法不同，主要測(cè)量工件的類型也不同。雖然大多數(shù)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的精度高于二次元影像測(cè)量?jī)x，但它必須與工件接觸才能測(cè)量大而硬的工件類型。在一些需要三維測(cè)量或高精度的工件中，二次元測(cè)量?jī)x也變得無(wú)能為力，主要是二維座標(biāo)測(cè)量的應(yīng)用領(lǐng)域。測(cè)量對(duì)象不同：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)更傾向于測(cè)量三維測(cè)量工件，二次元影像測(cè)量?jī)x更多的是測(cè)量二維表面尺寸工件，納諾測(cè)量檢測(cè)設(shè)備具有測(cè)量高度、平面度，即2.5維度，如果只測(cè)量表面二維尺寸，從測(cè)量效率和經(jīng)濟(jì)性，采用非接觸式二次元測(cè)量?jī)x具有的優(yōu)勢(shì)。
二次元測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x在各自領(lǐng)域具有的優(yōu)勢(shì)，但兩者不是相互競(jìng)爭(zhēng)的產(chǎn)品，而是可以相互彌補(bǔ)的測(cè)量設(shè)備。企業(yè)應(yīng)根據(jù)自身測(cè)量需要合理選擇。作為國(guó)內(nèi)專業(yè)的精密測(cè)量設(shè)備制造商，納諾測(cè)量目前可提供多種優(yōu)質(zhì)的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x、二次元測(cè)量?jī)x等精密測(cè)量設(shè)備!