一、武漢LED半導體高低溫冷熱沖擊試驗箱用途

  高低溫沖擊實驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。

二、武漢LED半導體高低溫冷熱沖擊試驗箱特點

高低溫沖擊試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。

1）*的造型設計，操作簡易之面板接口

2）采用日制*彩色觸控LCD中/英微電腦溫濕度控制器。

3）具有程序建文件及檔案管理之功能。

4）無紙式記錄功能，具實時顯示溫度沖擊試驗變化之曲線圖及記錄雙重功能。

5）冷熱沖擊機械移動時間在10秒內(nèi)，可符合MIL，IEC，JIS等規(guī)范。

6）冷熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內(nèi)，可符合相關試驗規(guī)范。

7）采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設計，降溫快效率高。

8）*的中/英文版聯(lián)機操作、設定、記錄軟件包。

9）可擴充：1、溫度記錄器2、LN2快速降溫控制系統(tǒng)

設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗