蔡司X射線光學(xué)顯微鏡Versa憑著出色的大工作中間距高分辨率(RaaD)的特點(diǎn)，變成了出色科學(xué)研究工作人員和生物學(xué)家的“強(qiáng)有力助手"。在相對性大工作中間距下也可以維持高分辨率，有利于造成意義非凡的科學(xué)研究看法和發(fā)覺。伴隨著現(xiàn)如今技術(shù)性的迅速發(fā)展趨勢，對分析儀也明確提出了高些的規(guī)定，而蔡司Xradia600Versa系列產(chǎn)品便是專為解決這一挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)方案的。

蔡司X射線光學(xué)顯微鏡Xradia610&620Versa選用改善的燈源和光學(xué)技術(shù)

X射線電子計(jì)算機(jī)斷層掃描儀顯像行業(yè)遭遇的兩個(gè)挑戰(zhàn)是：完成大容量試品和大工作中間距下的高分辨率和高通量測序顯像。蔡司發(fā)布的2款X射線光學(xué)顯微鏡憑著下列優(yōu)點(diǎn)解決了這種挑戰(zhàn)：系統(tǒng)軟件可出示大功率的X射線源，明顯提升 X射線擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)而加速了斷層掃描儀速率。工作效能提升 達(dá)二倍，并且不容易危害室內(nèi)空間分辨率。另外，X射線燈源的可靠性獲得提高，使用期限也更長。

關(guān)鍵特點(diǎn)包含：

?zui高室內(nèi)空間分辨率500nm，zui小體素40nm

?與蔡司Xradia500Versa系列產(chǎn)品對比，工作效能提升 二倍

?更為簡單實(shí)用，包含迅速激話源

?可以在很大的工作中間距下對更廣的試品種類和規(guī)格的試品開展亞微米特點(diǎn)的觀查

高些的分辨率和擴(kuò)散系數(shù)

傳統(tǒng)式斷層掃描儀技術(shù)性取決于單一幾何圖形變大，而蔡司X射線光學(xué)顯微鏡XradiaVersa則將選用電子光學(xué)和幾何圖形二級(jí)變大，另外應(yīng)用能夠完成更快亞微米級(jí)分辨率的高通量測序X射線源。大工作中間距下高分辨率顯像技術(shù)性(RaaD)可以對規(guī)格更高、相對密度高些的試品(包含零件和機(jī)器設(shè)備)開展高質(zhì)量高分辨率三維顯像。除此之外，可選裝的平板電腦探測儀技術(shù)性(FPX)可以對大容積試品(重約25kg)開展迅速宏觀經(jīng)濟(jì)掃描儀，為試品內(nèi)部很感興趣地區(qū)的掃描儀出示了導(dǎo)航定位。

完成新的可玩性

應(yīng)用業(yè)內(nèi)優(yōu)異的三維X射線顯像解決方法進(jìn)行前沿的科學(xué)研究與工業(yè)科學(xué)研究：憑著zui大化運(yùn)用消化吸收和相位差襯度，協(xié)助您鑒別更豐富的原材料信息內(nèi)容及特點(diǎn)。應(yīng)用透射襯度斷層掃描儀技術(shù)性(LabDCT)揭露三維分子結(jié)構(gòu)信息內(nèi)容。優(yōu)秀的圖象收集技術(shù)性可完成對大試品或不規(guī)律樣子試品的高精密掃描儀。應(yīng)用深度學(xué)習(xí)優(yōu)化算法，協(xié)助您開展試品的后處理工藝和切分。

出色的2D/原點(diǎn)解決方法

蔡司Xradia600Versa系列產(chǎn)品可以在可控性自然環(huán)境下開展原材料三維高質(zhì)量外部經(jīng)濟(jì)構(gòu)造定性分析的動(dòng)態(tài)性全過程。憑著XradiaVersa在大工作中間距下仍可維持高分辨率顯像的特點(diǎn)，可將試品置放到試品艙底或高精密原點(diǎn)載入設(shè)備中開展高分辨率顯像。Versa可與蔡司其他光學(xué)顯微鏡無縫拼接集成化，處理多尺度顯像層面的挑戰(zhàn)。