蔡司X射線斷層掃描解決方案

高分辨率Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）和計(jì)算機(jī)斷層掃描

• 無(wú)損地表征材料的特性和行為。
• 從三個(gè)維度（3D）揭示微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。
• 開(kāi)發(fā)并確認(rèn)模型或可視化結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。
• 即使是相對(duì)較大的樣品，也可以實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度和亞微米分辨率的成像。

Xradia Context microCT

蔡司Xradia Context是一種大型視野，無(wú)損3D X射線微計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，具有強(qiáng)大的平臺(tái)和靈活的軟件控制源/檢測(cè)器定位。