蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C的介紹
蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C主要用于產(chǎn)品的宏觀檢驗(yàn),能夠檢驗(yàn)斷口內(nèi)的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。

蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C的特點(diǎn)
1、圖像質(zhì)量：提供高反差、高襯度、高分辨率的三維圖像
2、光學(xué)系統(tǒng)：ICCS光學(xué)系統(tǒng)
3、顯微觀察技術(shù)： 防眩光技術(shù)
4、設(shè)計理念： 人機(jī)工程學(xué)原理, 模塊化設(shè)計和開放式結(jié)構(gòu)，保留了所有選擇項(xiàng)，便于日后的升級和功能增強(qiáng)。
5、使用壽命：60年

蔡司體視顯微鏡Stemi2000-C技術(shù)參數(shù)
1、總放大倍率：1.95X-250X
2、大工作距離為286mm
3、基本物體視場直徑為35mm
4 冷光源：8V20W（12V75W, 15V150W 24V250W）
5、可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)